馬場研助教萩野さんの論文が受理されました。

馬場研助教萩野さんの論文”Radiation-Induced Degradation Mechanism of X-ray SOI Pixel Sensors with Pinned Depleted Diode Structure”がIEEE-TNSに受理されました。SOI pixel sensorという新しい種類のX線検出器が宇宙空間で使用可能か知るため放射線耐性を調べた成果です。詳しくはこちらをご覧ください。